JEM-F200场发射透射电子显微镜主要用于各种微纳米材料的高分辨明暗场像观察和微区晶体结构分析，仪器具有以下特点：1.配备自动进出样品的测角台，大大提高了操作的便利性和安全性；2. 配置二次电子探头，能够采集二次电子成像；3.配置高速CMOS相机；4. 配置电制冷无窗型能谱仪，有效探测面积≥80mm2，具有较高的能谱采集速率；5.配有洛伦茨模式，可以对磁性样品进行低倍形貌观察。