仪器生产商： 日本电子株式会社

资产编号： LS56789

资产负责人： 魏赞斌

购置日期：2022-12-16

仪器价格：739.0000 万元

仪器产地：日本

仪器供应商：

购买经办人：

主要配件：

主要参数：TEM模式点分辨率：0.23nm，线分辨率：0.10nm；STEM模式分辨率：0.16nm；能量分辨率：Mn Ka处保证优于127eV；元素分析范围: 从Be4-Cf98

仪器介绍：主要功能：TEM成像（低倍形貌、高分辨像、选区电子衍射、普通明场像、暗场像）、STEM成像（明场像、HAADF高角环形暗场像）、二次电子像、元素分析（点、线、面）。 特点：1.配备自动进出样品的测角台，大大提高了操作的便利性和安全性；2. 配置二次电子探头，能够采集二次电子成像；3.配置高速CMOS相机；4. 配置电制冷无窗型能谱仪，有效探测面积≥80mm2，具有较高的能谱采集速率；5.配有洛伦茨模式，可以对磁性样品进行低倍形貌观察。

应用领域：JEM-F200场发射透射电子显微镜主要用于各种微纳米材料的高分辨明暗场像观察和微区晶体结构分析

管理规则：

实验规则：非资深用户的机时由管理员统筹安排，一般在每周五下班前安排好下一周的机时。

培训指南：普通形貌观察直接在预约后安排上的机时里培训。形貌观察操作步骤请见QQ用户群文件，QQ用户群：627368122