X射线吸收精细结构（XAFS）技术是能够在原子尺度上探测物质局部结构信息的强大工具。作为研究物质中特定元素近邻局域结构的最有效方法之一，能够提供吸收原子附近的键长、配位数、原子种类等关键结构信息，对纳米材料、催化化学、能源材料等前沿领域的研究具有不可替代的重要性。

近年来，高质量、高分辨率的XAFS数据已成为在Nature、Science、JACS、Angewandte等顶级期刊上发表成果的关键表征数据之一，校内各顶尖课题组对此类测试的需求日益迫切。然而，该技术长期以来严重依赖同步辐射光源，由于同步辐射大科学装置机时极为紧张，申请竞争激烈，且实验安排灵活性差，极大限制了我校科研人员，尤其是需要频繁测试、条件探索或紧急补数据的研究团队的研发效率与课题进展。