JEM-F200场发射透射电镜于9月份全部安装完毕，经过一段时间的试用，各项功能均能正常使用。即日起，仪器正式对外试运行，有实验需求的用户可在系统里预约。

仪器功能：
TEM成像（低倍形貌、高分辨像、选区电子衍射、普通明场像、暗场像）、STEM成像（明场像、HAADF高角环形暗场像）、二次电子像、元素分析（点、线、面）。

主要技术指标：
TEM模式点分辨率：0.23nm，线分辨率：0.10nm；
STEM模式分辨率：0.16nm；
元素分析范围: 从Be4-Cf98。

培训：由于F200的操作较为复杂，详细的培训方案目前还无法确定，后期将视仪器的预约和使用情况来制定有针对性的培训方案。

预约：为充分利用学院仪器资源，只需拍摄形貌、高分辨像、多晶衍射的请申请其它透射电镜。之前有操作过同型号F200的可以预约，没有操作经验的可联系有经验的同学协助测试，或者选择科研辅助机时。

JEM-F200透射电镜实验室

2025.10.20