仪器生产商： 美国Physical electronics 公司

资产编号： 20021587

资产负责人： 徐富春

购置日期：2002-04-03

仪器价格：468.9511 万元

仪器产地：美国

仪器供应商：

购买经办人：

主要配件： 氩离子枪

主要参数：束斑：10µm~200µm，一般100µm~200µm检测范围：原子序数大于He的所有元素 检测极限：0.5-0.01 atomic% 信息深度：0.5～7.5 nm 能量分辨率：优于0.5eV(Ag） 空间分辨率：优于10µm

仪器介绍：具有先进的自动电中和功能，可消除非导体样品的荷电位移影响；仪器同时具有角分辩XPS功能及氩离子深度剖析功能；具有元素影像扫描功能；通过仪器附带的SPS工作台，可方便进行样品元素的化学微区分析（100～200µm）。检测固体材料表面或纵深方向的元素组成及分布，通过元素结合能位置了解元素化学状态或键合状态。任何固体样品均可，但不得具有磁性、毒性、辐射性及易挥发性。

应用领域：

管理规则：

实验规则：

培训指南：