学术讲座

题 目:

布鲁克高空间分辨率能谱、EBSD高级表征技术，以及micro XRF        应用技术分享

讲座人:

陈剑峰 工程师

Bruker纳米分析部门

时 间:

2024年04月18日 09:00

地 点:

卢嘉锡楼202报告厅

报告摘要：

随着电子显微镜技术的普及与发展，仅对样品形貌的表征已经远不能满足科研的需求。在其基础上拓展的能谱、EBSD及原位分析等表征手段对于材料性能的研究发挥着越来越重要的作用。布鲁克电子显微镜分析仪器包含EDS、WDS,、EBSD和micro-XRF， 为您提供最全面、最先进、最精准高效的化学成分和结构分析整体解决方案。其中FlatQuad平插式能谱仪和同轴TKD探测器是SEM平台研究纳米材料，同时满足高效、高分辨率要求的最可靠的科研利器。

      报告人简介：

陈剑峰 布鲁克纳米分析应用科学家。2003年博士毕业于中科院长春应化所，主要研究方向是高分辨电子显微镜在高分子结晶中的应用，毕业后加入FEI，负责SEM/SDB的应用、培训以及市场等推广工作。2011年加入安捷伦公司负责SEM的市场和应用工作，2018年在赛默飞负责SEM的应用工作。2021年加入布鲁克，负责EDS、EBSD、 Micro-XRF等产品的技术支持工作，对电子显微镜的相关应用具有多年的实操经验。