学术讲座

题 目:

单波长XRF与全息基本参数法应对各类物质元素快速精准定量分析

讲座人:

滕云 博士

北京安科慧生科技有限公司

时 间:

6月20日（周四）9:00

地 点:

卢嘉锡楼202报告厅

报告摘要：

XRF做为元素分析仪器，具有制样简单、无损、分析元素范围宽等特点。近些年，以Johansson-type型双曲面弯晶的单色化聚焦激发技术、高分辨率和计数率的能量色散型探测器-硅漂移探测器等应用的单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪（ME XRF），大幅提升XRF元素定量能力，扩展XRF应用范围。

基本参数法（Fundamental Parameters method）是国际XRF领域研究重点，其解决XRF元素分析中由于基体效应、元素间吸收-增强效应、探测器效应所带来的不确定性，提升元素定量精度和样品适应性。安科慧生研发人员历经十几年，颁布业界领先的全息基本参数法-Holospec FP2.0，完成对XRF整个物理学过程的数字化描述，为各类物质元素定量以及镀（涂）层分析提供算法支撑。

本报告围绕ME XRF和Holospec FP原理以及在各类物质元素定量分析应用，与各课题组的学者们探讨元素分析的问题与解决方案。

        报告人简介：

滕云，北京邮电大学光学物理博士，现就职北京安科慧生科技有限公司，研发工程师。2014年国内首次研制成功双曲面弯晶，并成功应用于系列XRF研发生产。2022年，研制成功双源单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪，荣获“朱良漪分析仪器创新成果奖”！2021年国家自然科学基金委重大科学仪器专项：“全元素高灵敏度X射线荧光光谱仪研制”项目主要承担者。