学术讲座

题 目:

X射线能谱仪（EDS）基础及应用

讲座人:

马岚 博士

英国牛津仪器公司

时 间:

2024年09月18日 09:00

地 点:

卢嘉锡楼202报告厅

报告摘要：

微观表征是材料分析中不可或缺的重要组成部分，其结果不仅可以帮助建立性能、结构与工艺的内在联系，也可以帮助确认设计上的缺陷、工艺参数的不匹配或操作流程不当等问题，进而提高材料的产品质量及可靠性。EDS可以提供样品本征的元素分布及含量，但也有诸多问题困扰着广大操作者，如空间分辨率、能量分辨率及效率等。本报告的内容包括能谱的基本原理、发展方向和最新应用案例，听众可以从中了解到能谱定量准确性的要求、空间分辨率的影响因素，在日后科研工作中根据需求和实际情况有的放矢地调整相关参数，达到最佳结果。

报告人简介：

马岚博士: 2012年获得上海交通大学材料学博士学位，博士研究镁合金的时效强化及变形机制。2012-2015年间在日本物质材料研究所进行博后工作，研究课题为高强韧镁合金的开发及磁性材料微结构表征，熟悉掌握FIB及纳米操作手。2015年加入牛津仪器，主要负责能谱、EBSD、OP的推广及技术支持。