学术讲座

题 目:

日立冷场发射扫描电镜的最新技术特点及使用技巧

讲座人:

梅盈爽博士

日立高新科技公司

时 间:

2024年11月7日 15:30

地 点:

卢嘉锡楼202报告厅

报告摘要：

扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）是一种常用的表征物体表面微区形貌结构的分析仪器，具有分辨率高、接收信号多以及拓展功能丰富等特点，广泛应用于材料学、化学、生命科学等领域。但是市面上扫描电镜产品种类多，结构功能各不相同，并且不同学科的样品类型、观测内容及目的差异较大，导致操作人员有时候拍不出想要的结构或者清晰度较为理想的图片。本报告以日立冷场发射扫描电镜为例，从仪器结构设计特点、制样方法、参数选择技巧等方面，结合实际应用例子，详细阐述日立冷场发射扫描电镜的结构特点，能够获取的信息类型，以及如何拍摄理想的图片。

报告人简介：

梅盈爽，2019年毕业于浙江工业大学，获得博士学位，主修方向为金刚石及碳纳米复合薄膜的制备和光电性能研究。毕业后进入日立公司，现为电镜应用部产品经理，主要负责日立扫描电镜相关产品的技术支持和应用开发工作，对扫描电镜的原理、操作及应用具有丰富的经验。